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熱酸化法でゲート絶縁膜(酸化膜)を形成し、さらに窒化処理をゲート絶縁膜表面に施す。つづいてCVD法でゲート電極層(多結晶シリコン膜)を形成する。
ゲート電極層上にパターン形成プロセスを施し、ソース・ドレイン領域をつくる。
ソース・ドレイン領域にイオン注入法で導入した元素(ホウ素や砒素等)を打ち込む。酸化膜が残っている部分にはイオンが注入されない。その後、高温アニールによって不純物を均一に拡散させる。
酸化膜をCVD法で堆積させ、層間膜を形成し、表面を研磨して平坦にする。